Кинетическая энергия, скорость и импульс в формуле Эйнштейна являются максимальными, т. е. электрон имеет их сразу же после отрыва от атома. «Пробираясь к выходу» из вещества за счет взаимодействия с другими частицами, он может потерять энергию, поэтому вылетевшие электроны имеют различные скорости (вплоть до 0). | ||
Uзадерж | задерживающее напряжение (потенциал) [viii]– это обратное напряжение, которое нужно приложить между катодом и анодом фотоэлемента, чтобы прекратился фототок (см. рис. ниже) | |
ток насыщения, е – заряд электрона, t— время. | ||
световой поток | ||
квантовый выход | ||
А/Вт | чувствительность фотоэлемента | Iнасыщ = g Ф |
Отсюда для n = const следует, что сила тока насыщения прямо пропорциональна световому потоку.[ix] Коэффициент пропорциональности g называется чувствительностью фотоэлемента – она показывает, на сколько изменяется сила тока насыщения при изменении светового потока на единицу
3) Задерживающий потенциал.
Уравнение Эйнштейна можно записать в виде: и выразить задерживающий потенциал:
На рисунке показан график зависимости задерживающего потенциала от частоты падающего света. По графику можно найти работу выхода А, красную границу nгр , а по наклону прямой можно определить величину постоянной Планка h.
Фотоэлементы широко используются в физике и технике. Вакуумные фотоэлементы довольно громоздки и дают небольшие токи, но вследствие своей безинерционности и линейной световой характеристики они незаменимы в тех случаях, когда необходимо превратить световые сигналы в электрические без каких-либо искажений. Существование тока насыщения в фотоэлементах позволят использовать их в стабилизаторах (напряжение изменяется, а ток остается постоянным). Фотоэлементы очень часто применяют в турникетах, для подсчета движущихся изделий на конвейерах и т. п.
ЭФФЕКТ КОМПТОНА
Эффектом Комптона называется рассеяние веществом электромагнитного излучения, при котором частота рассеянного излучения уменьшается по сравнению с первоначальной, и одновременно наблюдается вылет быстрых электронов (электроны отдачи). Изменение частоты оказывается различной в зависимости от угла наблюдения. Американский ученый Комптон, открывший это явление (1923 г) разработал теорию явления. Он предложил рассматривать наблюдаемое взаимодействие света с веществом как упругое столкновение
частиц — фотона и электрона. Используя законы сохранения импульса и энергии, Комптон получил формулу для изменения длины волны в зависимости от угла рассеяния..
Мы не будем приводить полный вывод формулы для изменения длины волны, а запишем только законы сохранения и окончательную формулу. Так как эффект Комптона наблюдается только для фотонов с большой энергией (рентгеновские и гамма-лучи), то при вычислениях необходимо использовать формулы СТО, и вывод становится громоздким. [x]
На рис. показано столкновение первоначального фотона с энергией hnо с электроном в веществе (на рис. не показан). Импульс и энергия электрона до столкновения пренебрежимо малы по сравнению с импульсом и энергией фотона, т. е. электрон можно считать свободным. (Обычно употребляется выражение «рассеяние фотона на свободном электроне»). После столкновения фотон отклоняется от первоначального направления под углом q , а его энергия уменьшается и становится равной hn. Электрон получает импульс и кинетическую энергию и летит под углом j. (электрон отдачи, угол отдачи).
закон сохранения импульса в векторном и скалярном виде (теорема косинусов). — импульс падающего фотона, — импульс рассеянного фотона, — импульс электрона.q — угол рассеяния | |
закон сохранения энергии — энергия падающего фотона, — энергия рассеянного фотона, — кинетическая энергия электрона отдачи (электрон релятивистский). |
Подставив в эти законы выражения для указанных величин, приведенные ниже, после преобразований получим:
fiziku5.ru
Метод задерживающего потенциала — Справочник химика 21
Метод задерживающего потенциала является также одним из методов определения порога фотоэффекта. Задерживающий потен- [c.61] Метод задерживающего потенциала основан на том, что если потенциал электрода, улавливающего электроны, ниже потенциала катода на величину и, то достигнуть этого электрода могут только электроны, энергия которых при вылете из катода равна или больще еП. В случае плоского катода и параллельного ему плоского улавливающего электрода электрон может достигнуть последнего при условии
Потенциалы ионизации и появления различных молекул и ионов, определенные методом задерживающего потенциала [c.179]
В методе задерживающего потенциала потенциалы ионизационной камеры и анализатора изменяются независимо от системы коллектора (которая находится под потенциалом земли). В некоторых случаях используется электрод [c.290]
Методы определения распределения фотоэлектронов по скоростям и методы определения 5 порога фотоэффекта. Для опреде- ления распределения фотоэлектронов по скоростям применяется метод отклонения электронов в магнитном поле и метод задерживающего потенциала. [c.133]
Регистрируемые масс-спектрометром ионы были однозарядные, так как многозарядные ионы потребовали бы для своего образования большей энергии, которую не могла обеспечить экспериментальная установка при сохранении тлеющего разряда. Энергия ионов определялась методом задерживающего потенциала. Этим методом были сняты вольтамперные характеристики разряда при тех же режимах, при которых определялся видовой состав ионов и толщина нитридного слоя на железе. [c.112]
Имеются еще и другие методы измерения ионизационных потенциалов, к которым подобные возражения не применимы, во всяком случае в такой степени. Из этих методов лучше всего разработан метод спектроскопического определения предела слияния линий для электронных переходов в серии Ридберга, но он применялся лишь к относительно простым частицам типа метильных радикалов. В другом методе (фотоионизации) отрыв электрона от радикала осуществляется за счет удара быстрым фотоном. Поскольку относительно легко получить пучок монохроматического света, то энергию фотона, необходимую для появления ионов определить гораздо легче, чем энергию электрона в обычном методе электронного удара. Усовершенствованный вариант метода электронного удара, известный под названием метода задерживающего потенциала (ЗП), в значительной мере устраняет его недостатки, и получаемые при этом величины лучше соответствуют данным, полученным по методу фотоионизации и спектроскопии. Однако до тех пор, пока не будет получено больше данных по ионизации радикалов под действием фотонов или по методу ЗП, единственным способом проследить влияние структурных факторов на ионизационные потенциалы радикалов является рассмотрение обширных данных, полученных обычным методом электронного удара.
Для получения сведений об энергетическом распределении ионов, бомбардирующих электрод, мы применили метод задерживающего потенциала [7]. В центре распыляемого электрода имелось отверстие диаметром 3 мм, через которое ионы могли попадать на вспомогательный электрод, расположенный на расстоянии 0,2 мм от основного и отделенный от последнего слюдяным изолятором (рис, 3). Расстояние между основным и вспомогательным электродами было выбрано таким, чтобы ионы пролетали его практически без соударений, искажающих их энергетическое распределение. Энергетическое распределение ионов находилось путем измерения зависимости тока ионов, попадающих на вспомогательный электрод, от тормозящий разности потенциалов. Схема измерений показана на рис. 1. Так как целью наших измерений было прежде всего сравнение свойств высокочастотного и тлеющего разрядов постоянного тока, искажение задерживающего поля отверстием не учитывали. [c.111]
Существенные различия в свойствах тлеющего и высокочастотного разрядов наблюдались при измерениях энергетического распределения ионов методом задерживающего потенциала. Типичный вид экспериментальных кривых показан на рис. 5. Кривые относятся к одинаковой мощности разряда, одинаковому давлению и приведены к одному полному току ионов. При нормировке полного ионного тока к единице указанные кривые могут быть описаны общей эмпирической формулой
ФЭ Измерено на спектрально чистом образце в сферических конденсаторах методом задерживающего потенциала относительно А2 [458] [c.121]
Описанный метод задерживающего потенциала не позволяет определять абсолютные значения потенциалов ионизации, поскольку глубину нотенцпального минимума (задерживающий потенциал) [c.479]
Таким образом, измерив кинетическую энергию иона RI (например, по методу задерживающего потенциала), по формуле (14) получают Ей поформуле (12) —искомую энергиюсвязи D. [c.16]
Окисление углерода. Дэльтон [39а] исследовал реакцию окисления твердого углерода под действием медленных электронов. Потенциалы возбуждения кислорода, с которыми сравнивались критические потенциалы начала реакции, были определены в том же приборе методом задерживающего потенциала Франка— Герца. Углерод в виде сажи ианосился на задерживающий электрод. Процесс начинался при 7,9 в и ускорялся при 10,6 в, т. е. реакция начиналась и ускорялась при тех же потенциалах, при которых происходит возбуждение молекулы иислорода. [c.159]
При измерениях абсолютного содержания ионов в пучке необ -ходимо исключить или ввести поправку на дискриминирующее действие ионного источника. Причины этого явления ио.пностьЮ не выяснены, хотя в литературе [17, 79, 80] рассмотрен ряд факторов, присущих конструкции ионного источника, и исследовано [40, 53, 81] влияние начальной кинетической энергии на число ионов, проходящих через ионоускоряющую систему. При образовании ионов с начальной кинетической энергией первоначальный импульс в общем случае не перпендикулярен к коллиматор-ным пластинам, и поэтому в образовавшийся пучок попадает лин1ь небольшое количество ионов с большой начальной энергие . В ионном источнике, сконструированном Вестом [82], ко,ллиматор-ные щели намеренно сдвинуты друг относительно друга это приводит к тому, что через щел
www.chem21.info
Зависимость задерживающего потенциала от материалов катодов
Рис. 87. Схема эксперимента по фотоэффекту
Схема, представленная на рис. 87, b, соответствует схеме включения гальванометра в опыте А. Г. Столетова (рис. 85, c). Как видно (рис. 85, c и рис. 87, b), гальванометр включён в цепь: облучаемая пластина – минус батареи. Поэтому обе эти схемы должны давать аналогичные экспериментальные результаты.
Начнём анализ главной неясности, которую все физики обходят уже более 100 лет. Как понимать задерживающий потенциал, получаемый с помощью электрической схемы, показанной на рис. 87, b? Ведь потенциал на аноде А, как считается, положительный и он притягивает отрицательно заряженные электроны, но не отталкивает их и поэтому не может формировать задерживающий потенциал.
И, тем не менее, сообщается, что если увеличивать световой поток, то величина тока также увеличивается () и при определённом напряжении становится постоянной (рис. 88, а). Величина напряжения , при котором ток равен нулю, называется задерживающим потенциалом. Для понимания сути анализируемого процесса введём очень важное понятие — начальный задерживающий потенциал. Это необходимо потому, что он фиксируется при смене частоты света, облучающего пластину К (рис. 87, b).
На рис. 88, b — три разных начальных задерживающих потенциала . Это значит, что при последовательном увеличении частоты фотонов, начальный задерживающий потенциал каждый раз оказывался большим. Это фундаментальное следствие указывает на то, что увеличение частоты фотонов, поглощаемых валентными электронами атомов, входящих в молекулы, расширяет диапазон разрушаемых энергий связи ступенчато. Это значит, что начинают освобождаться не валентные электроны (2 или 2’, 3 или 3’ рис. 86). Вполне естественно, что ступенчато увеличивается и количество свободных электронов, которые, как считается, надо задерживать.
Далее, оказалось, что величина начального задерживающего потенциала у катодов зависит не только от частоты фотонов, но и от материала катода, что вполне естественно, так как валентные и не валентные электроны атомов, находящихся в составе молекул разных химических элементов, имеют разные энергии связи и разные диапазоны их изменения.
Рис. 88. Зависимость задерживающего потенциала V от частоты фотонов
(1 и 2 – разные материалы катодов)
Зависимость задерживающего потенциала от материалов катодов показана на рис. 88, с. Из неё следует, что величина задерживающего потенциала для катода из конкретного материала зависит линейно от частоты фотонов, падающих на катод. Причём, линии изменения этих зависимостей для катодов из разных материалов имеют один и тот же угол наклона.
Это исключительно ценный экспериментальный факт, позволяющий раскрывать структуры атомов и молекул материалов катодов, но в научной литературе отсутствует информация об этом. Не будем описывать детали, но отметим аналогию этого следствия со следствием, следующим из закона излучения абсолютно чёрного тела. Закономерность формирования спектра излучения абсолютно чёрного тела не зависит от материала этого тела. Это значит, что все электроны всех атомов, всех химических элементов имеют близкие энергии связи на одноимённых энергетических уровнях.
А теперь обратим внимание на то, что источником питания является батарея (рис. 87, b). Потенциал на её электродах меняется с помощью резистора. Вполне естественно, что резистор вызывает падение напряжения на клеммах батареи. Величина этого падения зависит от количества витков резистора, включенных в работу. При максимальном количестве витков, включённых в работу, падение напряжения будет максимально. Вольтметр V показывает остаток потенциала на клеммах батареи.
Поскольку величину потенциала определяет количество электронов, то при большом падении напряжения большая часть электронов циркулирует в замкнутой цепи: батарея – резистор, а меньшая часть обеспечивает величину уменьшенного потенциала на клеммах батареи, который выполняет роль задерживающего потенциала. Если эта часть потенциала будет равна потенциалу на пластине К, то тока не будет. Когда потенциал на пластине К будет больше остаточного потенциала на клеммах батареи, то начнётся процесс выравнивания потенциалов и амперметр А зафиксирует его.
Берём вначале пластину с материалом 1 (рис. 88, c), которая, согласно схеме на рис. 82, b, выполняет роль катода К. Когда пластина не облучается, то её потенциал будет равен той части потенциала на клеммах батареи, которая не расходуется на падение напряжения на клеммах батареи включённым резистором.
Если начать облучать пластину (рис. 88, b) светом, то у неё появится избыток свободных электронов, которые сформируют потенциал больший того, что остаётся на клеммах батареи после падения напряжения, вызываемого резистором. В результате начнётся процесс выравнивания потенциала и амперметр зафиксирует его своими показаниями. Чтобы прекратить этот процесс, надо увеличить потенциал на клеммах батареи. Делается это уменьшением сопротивления резистора. Это и есть причина увеличения задерживающего потенциала.
Таким образом, равенство потенциалов на пластине К и клеммах батареи и определяет величину потенциала, который называется задерживающим и который показывает вольтметр V. Величина этого потенциала регистрируется при нулевом показании амперметра G.
Далее, увеличение частоты фотонов, посылаемых на поверхность пластины К, увеличивает количество освобождаемых электронов ступенчато и задерживающий потенциал на этой пластине растёт ступенчато (рис. 88, b). Чтобы удержать увеличенный потенциал на пластине К, надо увеличить потенциал на клеммах батареи. Достигается это уменьшением сопротивления резистора. Факт равенства потенциалов на пластине К и на клеммах батареи регистрирует амперметр отсутствием тока в цепи: пластина К – минусовая клемма батареи.
Из описанного следует, что последовательное увеличение частоты, а значит и энергии фотонов, позволяет им освобождать электроны с большими энергиями связи и таким образом увеличивать количество свободных электронов. В результате растёт величина потенциала на пластине К и, чтобы закрыть путь электронам, формирующим этот потенциал, необходимо увеличить потенциал на клемме батареи (рис. 87, b) путем уменьшения сопротивления резистора (рис. 87, b). Последовательность этой операции приводит к получению прямолинейной зависимости между задерживающим потенциалом V и частотой фотонов, облучающих пластину (рис. 87, b). Например, на рис. 87, b показано, что фотоны с частотой формируют на пластине К потенциал, который можно удержать потенциалом на клеммах батареи.
Желающие могут проверить достоверность описанной интерпретации физической сути задерживающего потенциала, установив второй амперметр в цепи (рис. 87, b): пластина А (анод) — плюсовая клемма батареи. При любом увеличении частоты фотонов, посылаемых на поверхность пластины К, второй амперметр ничего не покажет, доказывая глубину ошибочности существующей интерпретации фотоэффекта. Вторая пластина (А) вообще не нужна в этой схеме. Наличие вакуума желательно, так как это уменьшает разрядку пластины К за счёт ионизации воздуха вблизи её поверхности.
Строго говоря, особой нужды в проверке достоверности описанной интерпретации физической сути задерживающего потенциала не существует, так как она реализуется в схемах работы солнечных батарей, где нет потенциалов, задерживающих электроны, рождающиеся в солнечных батареях. Эти электроны никуда не вылетают, а движутся по проводам и пополняют потенциал электролитических батарей.
А теперь рассмотрим работу радиолампы накаливания (рис. 89, а). На схемах (рис. 89, b и с) показано, что катод радиолампы нагревается дополнительным источником питания напряжением 30 В.
Известно, что при нагревании атомов их электроны поглощают фотоны и уходят на более высокие энергетические уровни, удалённые от ядер атомов. Вполне естественно, что существует предел энергии фотонов, поглощаемых электронами, который называется энергией ионизации электрона. Поглотив такой фотон, электрон теряет связь с протоном ядра и становится свободным. Если катод (-) и анод (+) поместить в вакуум, то, как считается, отрицательно заряженный электрон полетит к положительно заряженному аноду (рис. 89, b) и в цепи появится ток. Показания амперметра (рис. 89, b) доказывают достоверность такой интерпретации. Но у нас возникает наивный вопрос: что формирует положительный электрический потенциал на аноде?
fiziku5.ru
Метод — задерживающий потенциал — Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Метод — задерживающий потенциал
Cтраница 1
Метод задерживающего потенциала часто применяют и при энергетическом исследовании электронных пучков, сфокусированных продольным магнитным полем. Продольное магнитное поле сильно усложняет задачу исследования, заставляя частицы описывать криволинейные траектории. Если напряженность поля достаточно велика, то электроны практически движутся вдоль магнитных силовых линий. Их траектории представляют собой винтовые линии, навитые на линии магнитного поля. Электроны входят в тормозящее поле анализатора, если радиус винтовых траекторий намного меньше размеров отверстия во входной диафрагме. [1]
Метод задерживающего потенциала является также одним из методов определения порога фотоэффекта. [2]
Применяя метод задерживающего потенциала, исследователи смогли измерять энергию фотоэлектронов. Они обнаружили, что эта энергия совершенно не зависит от интенсивности света, а зависит от его частоты, увеличиваясь по мере возрастания частоты. [3]
В чем заключается метод задерживающего потенциала. [4]
Для повышения чувствительности метода задерживающего потенциала целесообразно использовать не первую, а вторую гармонику. Амплитуда второй гармоники Л2 как видно из выражения (2.12), пропорциональна производной функции энергетического распределения частиц. Вклад остальных членов, входящих в выражения (2.11) и (2.12) для Аги Л 2, определяется амплитудой модулирующего сигнала V0 и характером измеряемого энергетического распределения. [6]
Энергия фотоэлектронов определяется методом задерживающего потенциала. Если поверхность вещества, из которого вырываются электроны, является обкладкой конденсатора, то через цепь, в которую включен этот конденсатор, пойдет ток. [7]
Герц, изучая методом задерживающего потенциала столкновения электронов с атомами газов ( 1913), экспериментально доказали дискретность значений энергии атомов. [8]
Это осуществляется при помощи метода задерживающего потенциала. [10]
Остаточная энергия электронов определяется методом задерживающего потенциала. [11]
Именно ее и определяют методом задерживающего потенциала. [12]
При измерении энергии фотоэлектронов обычно пользуются методом задерживающего потенциала. Вблизи фотокатода располагается второй электрод ( анод), к которому прикладывается отрицательный по отношению к катоду потенциал V. Как уже было сказано, вылетевшие из фотокатода электроны имеют различные энергии. Те электроны, энергия которых удовлетворяет условию Е eV ( e — заряд электрона), не могут достичь анода. Поэтому при увеличении V анодный ток падает. [13]
В данной работе для изучения этого распределения применяется метод задерживающего потенциала. [14]
Страницы: 1 2
www.ngpedia.ru
Задерживающий потенциал — Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
Задерживающий потенциал
Cтраница 4
При измерении энергии фотоэлектронов обычно пользуются методом задерживающего потенциала. Вблизи фотокатода располагается второй электрод ( анод), к которому прикладывается отрицательный по отношению к катоду потенциал V. Как уже было сказано, вылетевшие из фотокатода электроны имеют различные энергии. Те электроны, энергия которых удовлетворяет условию Е eV ( e — заряд электрона), не могут достичь анода. Поэтому при увеличении V анодный ток падает. [46]
В счетчике ионов предусмотрена возможность использования электрода задерживающего потенциала вместо антидинатрошюго электрода. Он устанавливается также в приемнике ионов и служит для некоторого повышения разрешающей способности масс-спектрометра, достигаемого задержкой рассеянных ионов, имеющих меньшую энергию, чем основной ионный пучок. Электрод задержки используется, кроме того, для приближенного измерения распределения по энергии ионов, приходящих на коллектор приемника. [47]
В счетчике ионов предусмотрена возможность использования электрода задерживающего потенциала вместо антидинатронного электрода. Он устанавливается также в приемнике ионов и служит для некоторого повышения разрешающей способности масс-спектрометра, достигаемого задержкой рассеянных ионов, имеющих меньшую энергию, чем основной ионный пучок. Электрод задержки используется, кроме того, для приближенного измерения распределения по энергии ионов, приходящих на коллектор приемника. [48]
В 1951 г. был разработан метод разностей задерживающих потенциалов ( метод РЗП) [1, 2], который позволил осуществлять ионизацию моноэнергетическими электронами. Было показано, например, что вероятность образования однозарядных ионов при энергии электронов, близкой к потенциалу ионизации, растет линейно с избытком энергии электронов над пороговой. [49]
В работе изучается зависимость фототока от величины задерживающего потенциала F0 для различных частот света со, лежащих г, видимой области спектра. [50]
Как видно из табл. 1, изменение задерживающего потенциала AFm много меньше изменения анодного напряжения AFa. Очевидно, что это позволяет вести более тонкую регулировку величины задерживающего потенциала, чем это возможно при помощи задерживающей диафрагмы. [51]
Этого следует избегать, так как метод разностей задерживающих потенциалов основан на предположении, что задерживающий потенциал не влияет на распределение электронов. Следовательно, изменение анодного напряжения должно быть минимальным, достаточным лишь для обеспечения измеримой разности ионных токов. [53]
В данной работе для изучения этого распределения применяется метод задерживающего потенциала. [54]
Тот факт, что в нашем варианте метода разностей задерживающих потенциалов электроны задерживаются в области пространственного заряда, значительно удаленной от щелей, означает, что загрязнение поверхности щелей не представляет более проблемы. Вероятно, это позволяет увеличить время работы источника ионов. [55]
Изучение распределения ионов по энергиям чаще всего ведут методом задерживающего потенциала или методом дисперсии ионов по энергиям в секторном магнитном поле. Метод отклоняющего поля, впервые примененный Рисом и Хипплом [3] для качественного определения кинетических энергий ионов, до сих пор мало применялся. [57]
Здесь i — ионный ток на вспомогательный электрод при задерживающем потенциале U; 1Полн — ионный ток при нулевом задерживающем потенциале, t / rp — потенциал, при котором ионный ток практически обращается в нуль; п — эмпирический коэффициент. [59]
Страницы: 1 2 3 4
www.ngpedia.ru
Задерживающий потенциал — Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Задерживающий потенциал
Cтраница 1
Задерживающий потенциал Уг подается прямо на диафрагму со щелью, находящуюся на пути электронного пучка. Потенциал двух соседних диафрагм поддерживается близким к потенциалу задерживающей диафрагмы, чтобы в ее плоскости получилось равномерное распределение потенциала. [1]
Измерив задерживающий потенциал ф3, легко определить максимальную скорость ушах фотоэлектронов. [2]
Метод задерживающего потенциала является также одним из методов определения порога фотоэффекта. [3]
Приложение задерживающих потенциалов к коллектору позволяет измерять энергетические спектры фотоэлектронов. Палец ( F), перемещающийся относительно щели в коллекторе, позволяет проводить измерения в зависимости от угла эмиссии. Здесь заметно сходство с современными экспериментальными методами. [4]
Метод задерживающего потенциала является также одним из методов определения порога фотоэффекта. [6]
Метод задерживающего потенциала часто применяют и при энергетическом исследовании электронных пучков, сфокусированных продольным магнитным полем. Продольное магнитное поле сильно усложняет задачу исследования, заставляя частицы описывать криволинейные траектории. Если напряженность поля достаточно велика, то электроны практически движутся вдоль магнитных силовых линий. Их траектории представляют собой винтовые линии, навитые на линии магнитного поля. Электроны входят в тормозящее поле анализатора, если радиус винтовых траекторий намного меньше размеров отверстия во входной диафрагме. [7]
Следовательно, задерживающий потенциал будет равен 120 В. [8]
Отедовательно, задерживающий потенциал будет равен 120 В. [9]
Найти величину задерживающего потенциала для фотоэлектронов, испускаемых при освещении калия светом, длина волны которого равна 3300 А. [10]
Применяя метод задерживающего потенциала, исследователи смогли измерять энергию фотоэлектронов. Они обнаружили, что эта энергия совершенно не зависит от интенсивности света, а зависит от его частоты, увеличиваясь по мере возрастания частоты. [11]
Метод разностей задерживающих потенциалов ( РЗП) не мог быть применен для исследования ионов О при высоких энергиях электронов — при этом был слишком малый ионный ток. [13]
Описанный метод задерживающего потенциала не позволяет определять абсолютные значения потенциалов ионизации, поскольку глубину потенциального минимума ( задерживающий потенциал) пространственного заряда у катода, так же как и контактную разность потенциалов между анодом и катодом, нельзя измерить непосредственно. Поэтому вместе с изучаемым необходимо вводить калибрующий газ. Если принять, что потенциал ионизации аргона равен 15 75 эв [11], то для потенциала появления N получается значение 15 58 эв, что находится в хорошем согласии со спектроскопическими данными. [14]
Амплитуда импульса задерживающего потенциала регулируется в пределах 0 — 600 в. Длительность этого импульса может меняться в пределах 0 — 10 мксек. [15]
Страницы: 1 2 3 4
www.ngpedia.ru
Задерживающий потенциал — Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Задерживающий потенциал
Cтраница 2
Метод разности задерживающих потенциалов Фокса, Хиккема, Кьелдааса и Гроува [675] исключает затруднения, связанные с энергией бомбардирующих электронов, и позволяет получать данные для положительных ионов без применения внутреннего стандарта, совпадающие со спектроскопическими величинами в пределах 0 1 эв. Применяя эту методику для исследования отрицательных ионов, можно ожидать получения аналогичной точности. [16]
Приемники с задерживающим потенциалом, так же как и обычные, имеют специальный электрод для подавления вторичной электронной эмиссии. Электрод, предназначенный для предотвращения вторичных явлений, обычно называют антидинатронным экраном. [17]
При некотором задерживающем потенциале фототок становится равным нулю. [18]
В опытах Джермера задерживающий потенциал был наложен на цилиндрический электрод, коаксиально окружающий вольфрамовую нить. [19]
По методу разности задерживающих потенциалов ( метод Фокса) с целью отсечь электроны со значениями энергии из нижней части кривой их распределения по энергиям применяют задерживающий потенциал. Этот метод в сочетании с лучшими способами обработки КЭИ дает хорошие результаты. [20]
Для измерения величины задерживающего потенциала U3 в работе применяется ламповый вольтметр ЛВ, входное сопротивление которого практически можно считать бесконечно большим. [21]
К 3 — минимальный задерживающий потенциал, полностью запирающий фотоэмиссионный ток. [23]
В статье описано использование задерживающего потенциала для монохромати-зации электронного пучка. [24]
Энергия фотоэлектронов определяется методом задерживающего потенциала. Если поверхность вещества, из которого вырываются электроны, является обкладкой конденсатора, то через цепь, в которую включен этот конденсатор, пойдет ток. [25]
Таким образом, величина задерживающего потенциала не зависит от интенсивности, а зависит только от частоты падающего света. [26]
В чем заключается метод задерживающего потенциала. [27]
Энергия фотоэлектронов определяется методом задерживающего потенциала. Если поверхность вещества, из которого вырываются электроны, является обкладкой конденсатора, то через цепь, в которую включен этот конденсатор, пойдет ток. [28]
Для повышения чувствительности метода задерживающего потенциала целесообразно использовать не первую, а вторую гармонику. Амплитуда второй гармоники Л2 как видно из выражения (2.12), пропорциональна производной функции энергетического распределения частиц. Вклад остальных членов, входящих в выражения (2.11) и (2.12) для Аги Л 2, определяется амплитудой модулирующего сигнала V0 и характером измеряемого энергетического распределения. [30]
Страницы: 1 2 3 4
www.ngpedia.ru
